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機床設(shè)備中*的德國haidenhain海德漢光柵尺應(yīng)用：起先簡單介紹一下海德漢haidenhain基本資料海德漢HEIDENHAIN公司是全資擁有的附屬公司，總部在德國。海德漢公司是設(shè)在紹姆堡，西北，芝加哥。 為了更進一步貼近客戶以適應(yīng)中國地區(qū)日益擴大的需求，海德漢德國總部以3000萬美元的投資總額在北京天竺空港工業(yè)區(qū)建立了占地14650平方米的新廠區(qū)，從而邁出了在中國應(yīng)用研發(fā)和生產(chǎn)制造的步伐。海德漢中國全部移植了德國總部的生產(chǎn)技術(shù)、管理經(jīng)驗和質(zhì)量標準，這確保了海德漢德國的品質(zhì)要求和服務(wù)理念在中國的貫徹和實施。
海德漢haidenhain光柵尺廣應(yīng)用于數(shù)控機床上面！他的光柵尺是很多品牌的光柵尺都替代不了的包括精度 技術(shù)等等！我司優(yōu)勢經(jīng)銷海德漢haidenhain光柵尺全系列歡迎您的！與您共贏是我們的目標！我們將在保障質(zhì)量和貨期的基礎(chǔ)上zui大限度的降低您的采購成本！
： ： 徐 海德漢haidenhain的封閉式光柵尺能有效防塵、防切屑和防飛濺的切削液，是用于機床的理想選擇。鋁質(zhì)外殼和密封軟條可以保護光柵尺、掃描單元和軌道免受灰塵、切屑和切削液的影響。掃描單元的運動軌道摩擦力很小，軌道內(nèi)置在光柵尺上。它通過一個連軸器與外部的安裝架連接，這個連軸器可以補償光柵尺和機器軌道之間不可避免的對正誤差。. 封閉式光柵尺的結(jié)構(gòu)有標準光柵尺外殼適用于振動頻率高且zui大測量長度為30米，還有緊湊光柵尺外殼適用于安裝空間小，zui大測量長度為2040毫米。 Haidenhain海德漢是在49個國家都有分支機構(gòu)、公司，可以說是高質(zhì)量的標準，海德漢是記錄通過認證，在ISO 9001品質(zhì)系統(tǒng)模型和授權(quán)作為德國校準服務(wù)（ dkd ）檢查站為單位的長度和角度。只要產(chǎn)品的使用壽命和可循環(huán)再造的設(shè)計上，一方面謹慎使用資源和優(yōu)化能源消費對其他先決條件的環(huán)境宣言，在遵守ISO 14001系列標準。 Haidenhain海德漢研制生產(chǎn)光柵尺、角度編碼器、旋轉(zhuǎn)編碼器、數(shù)顯裝置和數(shù)控系統(tǒng)。海德漢公司的產(chǎn)品被廣泛應(yīng)用于機床、自動化機器，尤其是半導(dǎo)體和電子制造業(yè)等領(lǐng)域。 海德漢Haidenhain的全體中國員工將秉承海德漢的宗旨：為客戶提供zui的服務(wù)、品質(zhì)*良的產(chǎn)品并不斷完善自己。我們堅信我們必定能成為廣大客戶在發(fā)展各自事業(yè)過程中zui緊密的伙伴。LC 100系列式直線光柵尺直接提供位置值，測量前無需回零。同時還提供增量信號。它們與LS 100系列增量式直線光柵尺的安裝尺寸相同，機械結(jié)構(gòu)也相同。由于LC100和LS100系列直線光柵尺的精度高和可定義的溫度特性，特別適用于NC數(shù)控機床應(yīng)用。 Type 測量方法 精度等級 位置值 測量長度 LC 182 位置 ± 5 µm|± 3 µm EnDat 2.1 140 mm4240mm LC 183 位置 ± 3 µm EnDat 2.2 140 mm4240mm LC 192F 位置 ± 5 µm|± 3 µm 串行接口 Fanuc 01 140 mm4240mm LC 193F 位置 ± 5 µm|± 3 µm 串行接口Fanuc 02 140 mm4240mm LC 192M 位置 ± 5 µm|± 3 µm 三菱高速串行接口 140 mm4240mm
| Type | 測量方法 | 信號周期 | 精度等級 | 增量信號 | 測量長度（mm） |
| LS 177 單場掃描 | 增量式 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | TTL x 5 or x 10 | 140至3040 |
| LS177C單場掃描 | 增量式距離編碼 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | TTL x 5 or x 10 | 140 至3040 |
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| LS 176 | 增量式 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | TTL | 140 至3040 |
| LS 176C | 增量式距離編碼 | 20µm | ±5µm | ±3µm | TTL | 140 至3040 |
| LS 187 | 增量式 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | 1 Vpp | 140 至3040 |
| LS 187C | 增量式距離編碼 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | 1 Vpp | 140 至3040 |
| LS186 / LS186C | 增量式距離編碼 | 20µm | ± 5 µm|± 3 µm | TTL / 1 Vpp | 140 至3040 |
LF系列增量式光柵尺的柵距更小。因此，特別適用于很高重復(fù)精度的應(yīng)用
| Type | 測量方法 | 增量信號 | 精度等級 | 信號周期 | 參考點 | 測量長度（mm） |
| LF 183 | 增量式 | 1 VSS | ± 2 µm ± 3 µm | 4 µm | 每50 mm可用磁條選擇 | 140至3040 |
| LF 183C | 增量式 | 1 VSS | ± 2 µm ± 3 µm | 4 µm | 距離編碼 | 140至3040 |
大測量長度
Haidenhain LB系列增量式光柵尺的測量長度可達30米。其測量基準為AURODUR光刻工藝制造的鋼帶光柵尺。在光柵尺外殼安裝好之后，將鋼帶光柵尺穿入尺座中并進行預(yù)緊并將兩端固定在機床鑄件上。
LC 400系列式直線光柵尺直接提供位置值，測量前無需回零。同時還提供增量信號。同LS 400系列增量式直線光柵尺一樣，它精度高并具有可定義的溫度特性，特別適用于NC數(shù)控機床。
| Type | 測量方法 | 增量信號 | 信號周期 | 精度等級 | 位置值 | 分辨率 | 測量長度 |
| LC 493F | 式 | - | - | ± 3µm ± 5µm | Serial Interface Fanuc 02 | 0,01 µm 0,05 µm | 70至 2040 |
| LC 493M | 式 | - | - | ± 3µm ± 5µm | High Speed Serial Interface | 0,01 µm 0,05 µm | 70至 2040 |
| Type | 測量方法 | 增量信號 | 信號周期 | 精度等級 | 參考點 | 測量長度 |
| L S487 | 增量式 | 1 VPP | 20 µm | ± 3µm ± 2µm | 一個或帶距離編碼 | 50至 1220 |
| LS477 | 增量式 | TTL | 4µm/2µm | ± 3µm ± 2µm | 一個或帶距離編碼 | 70至2040 |
LF系列增量式光柵尺的柵距更小。因此，特別適用于很高重復(fù)精度的應(yīng)用。
| Type | 測量方法 | 增量信號 | 信號周期 | 精度等級 | 參考點 | 測量長度 |
| L F481 | 增量式 | 1 VPP | 4 µm | ± 3µm ± 2µm | 一個或帶距離編碼 | 50至 1220 |
LS600 LS300系列增量式直線光柵尺用于簡單定位應(yīng)用，例如手動操作機床。
| Type | 測量方法 | 增量信號 | 信號周期 | 精度等級 | 參考點 | 測量長度 |
| L S388C | 增量式 | 1 VPP | 20 µm | ± 3µm ± 2µm | 一個或帶距離編碼 | 70至 1240 |
| L S328C | 增量式 | TTL | 20 µm | ± 10µm | 距離編碼 | 70至 1240 |
Haidenhain敞開式直線光柵尺設(shè)計用于需要高精度測量的機床和系統(tǒng)
典型應(yīng)用包括：
· 半導(dǎo)體工業(yè)的測量和生產(chǎn)設(shè)備
· PCB電路板組裝機
· 超精密機床
· 高精度機床
· 測量機和比較儀，測量顯微鏡和其它精密測量設(shè)備
· 直接驅(qū)動
| 產(chǎn)品系 | 應(yīng)用 |
| LIC | LIC敞開式直線光柵尺用于測量高速運動的行程達27 m內(nèi)的位置。其尺寸和安裝方式與LIDA 400相同。 |
| LIP | LIP敞開式直線光柵尺的測量步距非常小、精度和重復(fù)精度非常高。掃描方式為干涉掃描，測量基準為DIADUR相位光柵。 |
| LIF | LIF敞開式直線光柵尺的測量基準是SUPRADUR玻璃基體光柵，掃描方式為干涉掃描。特點是精度和重復(fù)精度高，安裝簡單，有限位開關(guān)和回零軌。特殊型號的LIF 481 V可用于10–7 bar的真空環(huán)境中（參見其單獨“產(chǎn)品信息”）。 |
| LIDA | LIDA敞開式直線光柵尺特別適用于運動速度達10 m/s的高速運動應(yīng)用，支持多種安裝方式，安裝簡單。根據(jù)相應(yīng)應(yīng)用要求，METALLUR光柵的基體可為鋼帶，玻璃或玻璃陶瓷。也可有限位開關(guān)。 |
| PP | PP雙坐標編碼器的測量基準是一個平面 DIADUR相位光柵，掃描方式為干涉掃面。用于測量平面中位置 |
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